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平成２４年９月２７日（木）～２８日（金）の二日間、東京国際フォーラムで開催されたイノベーションジャパン2012に香川高専から２件出展されました。
詫間キャンパスからは、電子システム工学科高木特任教授が「ＣＭＯＳ ＬＳＩ実装時の完全断線・半断線故障の検出方法」について、高松キャンパスからは、電気情報工学科本田教授が「ノイズの多い画像の線状パターン認識能向上技術」の出展を行い、終日多くの方の来場をいただき熱心なご質問を受けました。
出展をとおして、香川高専の研究成果の一端を産業界へアピールできました。
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